Змінити режим перегляду


АНАЛІЗ
 Властивості об’єктів:

Скануючий електронний мікроскоп ZEISS EVO 50XVP


  • Відділення Фізико-технічних проблем матеріалознавства
  • Посилання на центр http://www.ism.kiev.ua/index.php?i=18
  • Основна галузь Мікроскопія
  • Адреса 04074, Київ 74, вул. Автозаводська, 2
  • Назва інституту Ін-т надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля
  • Місце знаходження Київ
  • Обєкт дослідження Тверді речовини
  • Обєкт дослідження Рідини (не летючі)
  • Сайт інституту http://www.ism.kiev.ua/
  • Назва центру Скануюча електронна мікроскопія і мікроаналіз (СЕММА)
  • Призначення Мікроскопічні дослідження
  • Контактні телефони 044-468-8632
  • Сецкія Секція фізико-технічних і математичних наук

Споріднені вершини: дивитись