Змінити режим перегляду


АНАЛІЗ
 Властивості об’єктів:

ТОМОГРАФ (Без розділів без $)



НАЗВА
1
()
основа
2
()
століття
3
()
переваги
4
()
обстеження
5
()
пацієнт
6
()
кераміка
7
()
ангіографія
8
()
колоноскопія
9
()
діагностика
10
()
захворювання
11
()
реконструкція
12
()
горизонт
13
()
властивості
14
()
комплекс
15
()
інструмент
16
()
розплав
17
()
критерій
18
()
аніон
19
()
валентність
20
()
заміщення
21
()
спотворення
22
()
відмінність
23
()
атом
24
()
вплив
25
()
реабсорбція
26
()
зміщення
27
()
суперпозиція
28
()
електропровідність
29
()
трансформація
30
()
алюміній
31
()
телур
32
()
екситон
33
()
експеримент
34
()
порядок
35
()
результат
36
()
люмінофор
37
()
випромінювач
38
()
нейтрон
39
()
розчинність
40
()
персонал
41
()
тиск
42
()
реактор
43
()
газ
44
()
аргон
45
()
нагрівач
46
()
аналіз
47
()
співвідношення
48
()
порівняння
49
()
формування
50
()
допомога
51
()
перетворювач
52
()
фотон
53
()
забезпечення
54
()
обробка
55
()
спектрофотометр
56
()
струм
57
()
напруга
58
()
мультиплексор
59
()
контролер
60
()
комп'ютер
61
()
осцилограф
62
()
блок управління
63
()
довжина хвилі
64
()
збільшення
65
()
область
66
()
перегин
67
()
сірка
68
()
провідність
69
()
проблема
70
()
летючість
71
()
термообробка
72
()
випаровування
73
()
видалення
74
()
середовище
75
()
повітря
76
()
забарвлення
77
()
створення
78
()
різноманітність
79
()
шихта
80
()
введення
81
()
карбонат
82
()
зростання
83
()
положення
84
()
окислення
85
()
розкладання
86
()
кластеризація
87
()
розсіювання
88
()
кластер
89
()
компенсатор
90
()
рекомендації
91
()
зменшення
92
()
асиметрія
93
()
емісія
94
()
деформація
95
()
кріостат
96
()
фотоприймач
97
()
підсилювач
98
()
апарат
99
()
срібло
100
()
інтервал
101
()
тривалість
102
()
літій
103
()
додавання
104
()
вісмут
105
()
релаксація
106
()
електрод
107
()
фотопомножувач
108
()
кореляція
109
()
вольфрамат кадмію
110
()
азот
111
()
антикатод
112
()
потужність
113
()
доза
114
()
сталість
115
()
нагрів
116
()
терморегулятор
117
()
фільтр
118
()
схема
119
()
вакуум
120
()
молібден
121
()
залізо
122
()
явище
123
()
метал
124
()
погіршення
125
()
атмосфера
126
()
дефектність
127
()
синхронізація
128
()
інтенсивність ТСЛ
129
()
інформація
130
()
детектування
131
()
датчик
132
()
кобальт
133
()
кремній
134
()
пристрій
135
()
якість
136
()
мета
137
()
властивість
138
()
діаметр
139
()
відношення
140
()
маса
141
()
етап
142
()
сполука
143
()
стехіометрія
144
()
фаза
145
()
кристалізація
146
()
градієнт
147
()
період
148
()
автономність
149
()
режим
150
()
клас
151
()
випадіння
152
()
випарювання
153
()
доцільність
154
()
анізотропність
155
()
симетрія
156
()
магній
157
()
сировина
158
()
оптимізація
159
()
кваліфікація
160
()
присутність
161
()
відхилення
162
()
фтор
163
()
надлишок
164
()
забарвленість
165
()
знебарвлення
166
()
поєднання
167
()
фторид
168
()
вольфрамат цинку
169
()
вакансія кисню
170
()
придушення
171
()
ефективність
172
()
світло
173
()
модифікація
174
()
європій
175
()
рентген
176
()
показник
177
()
перерозподіл
178
()
припущення
179
()
ефект
180
()
центр
181
()
носій заряду
182
()
вивчення
183
()
зв'язок
184
()
діелектрик
185
()
квант
186
()
розподіл
187
()
модуляція
188
()
фактор
189
()
близькість
190
()
іонізація
191
()
активатор
192
()
церій
193
()
походження
194
()
вольфраміт
195
()
дірки
196
()
величина
197
()
стан катіона
198
()
розрахунок
199
()
відстань
200
()
множення
201
()
різниця
202
()
випадок
203
()
наявність
204
()
модель
205
()
поведінка
206
()
внесок
207
()
відповідність
208
()
термалізація
209
()
сфера Онзагера
210
()
застосовність
211
()
протиріччя
212
()
особливість
213
()
рухливість
214
()
тенденція
215
()
дифузія
216
()
амплітуда
217
()
коливання
218
()
мінімум
219
()
дендрит
220
()
поліровка
221
()
рух
222
()
ідентифікація
223
()
рентгенограма
224
()
база
225
()
існування
226
()
виявлення
227
()
кислота
228
()
мікроскоп
229
()
вода
230
()
переохолодження
231
()
фіксування
232
()
гомогенність
233
()
похибка
234
()
розподілення
235
()
методика
236
()
стійкість
237
()
відсутність
238
()
обмеження
239
()
варіювання
240
()
форма
241
()
порошок
242
()
фракція
243
()
екран
244
()
гранат
245
()
гадоліній
246
()
апаратура
247
()
розрізнення
248
()
орієнтація
249
()
випробування
250
()
обчислення
251
()
мідь
252
()
зіставлення
253
()
узгодження
254
()
селективність
255
()
густина
256
()
інтерполяція
257
()
лютецій
258
()
переміщення
259
()
коліматор
260
()
визначення
261
()
анод
262
()
еталон
263
()
топограма
264
()
захист
265
()
приймач
266
()
неоднорідність
267
()
збирання
268
()
урахування
269
()
плотер
270
()
контроль
271
()
тестування
272
()
відтворення
273
()
реєстрація
274
()
сканер
275
()
програма
276
()
повторювання
277
()
операція
278
()
різання
279
()
розрізання
280
()
штангенциркуль
281
()
мікрометр
282
()
лінійка
283
()
вакуумування
284
()
приготування
285
()
каталізатор
286
()
шпатель
287
()
установка
288
()
розрідження
289
()
нанесення
290
()
суміщення
291
()
корекція
292
()
розташування
293
()
пінцет
294
()
закінчення
295
()
полімеризація
296
()
палітра
297
()
ідея
298
()
покоління
299
()
ослаблення
300
()
речовина
301
()
вирішення
302
()
безпека
303
()
розбіжності
304
()
тканина
305
()
патенти України
306
()
впровадження
307
()
виробництво
308
()
висвітлення
309
()
перспективність
310
()
яскравість
311
()
поліпшення
312
()
вихідний матеріал
313
()
кристалічні матеріали
314
()
використання сцинтиляційного матеріалу
315
()
контрастна чутливість
316
()
діапазон чутливості
317
()
спектр чутливості
318
()
проблеми виготовлення
319
()
можливість виготовлення
320
()
спосіб виготовлення
321
()
рентгенівська томографія
322
()
медична томографія
323
()
комп'ютерна томографія
324
()
тіньові зображення
325
()
рентгенівські зображення
326
()
максимум спектру випромінювання
327
()
смуга випромінювання
328
()
спектр випромінювання
329
()
максимум люмінесценції
330
()
малий рівень
331
()
рівень гомогенізації
332
()
рівень люмінесценції
333
()
високий рівень
334
()
вимірювання рівня післясвічення
335
()
можливість отримання
336
()
умови отримання
337
()
система сканування
338
()
використання композиційних сцинтиляторів
339
()
використання композитних панелей
340
()
можливість створення
341
()
можливість застосування
342
()
однорідність сцинтиляційних параметрів
343
()
сцинтиляційні панелі
344
()
композитні панелі
345
()
сцинтиляційні елементи
346
()
монокристалічні елементи
347
()
кількість елементів
348
()
методики сканування
349
()
томографічні дослідження
350
()
ретельні дослідження
351
()
дослідження кристалів
352
()
товщина шару
353
()
ефективність поглинання
354
()
коефіцієнт оптичного поглинання
355
()
токсичний кадмій
356
()
коефіцієнт спектрального узгодження
357
()
коефіцієнт світлового виходу
358
()
сульфід цинку
359
()
кінетичні параметри селеніду цинку
360
()
дози опромінення
361
()
енергоселективні детектори
362
()
сцинтиляційні детектори
363
()
детектори скануючих систем
364
()
детектори рентгенівської інтроскопії
365
()
багатоелементний фотодетектор
366
()
піксель фотодетектора
367
()
квантовий вихід люмінесценції
368
()
сцинтиляційні кристали
369
()
площина кристалу
370
()
подрібнені кристали
371
()
поверхня кристалів
372
()
композитний сцинтилятор
373
()
оксидний сцинтилятор
374
()
вирощування монокристалів
375
()
процес вирощування
376
()
вирощування кристалів
377
()
оптико-люминесцентні параметри
378
()
сцинтиляційні параметри кристалів
379
()
напівпровідниковий сцинтилятор
380
()
спосіб управління
381
()
спосіб отримання
382
()
ізовалентні домішки
383
()
полівалентні домішки
384
()
контрольовані домішки
385
()
комп’ютерний томограф
386
()
жорсткі вимоги
387
()
кінетична характеристика люмінесценції
388
()
однорідність характеристик
389
()
температурна стабільність
390
()
метод Бриджмена
391
()
концентрація допанта
392
()
концентрація вакансій кисню
393
()
катіонна домішка
394
()
легування зразків
395
()
відпал зразків кристалів
396
()
люмінесценція сцинтилятора
397
()
структура піків люмінесценції
398
()
механізм люмінесценції
399
()
загасання люмінесценції
400
()
інтенсивність люмінесценції
401
()
смуги крайової люмінесценції
402
()
інтенсивність крайової люмінесценції
403
()
гасіння дефектної люмінесценції
404
()
смуги дефектної люмінесценції
405
()
забруднення кристала
406
()
інтенсивність свічення кристалів
407
()
недопоровані кристали
408
()
рентгенолюмінесценція кристалів
409
()
спектр пропускання кристалів
410
()
спектр поглинання кристалів
411
()
спектр рентгенолюмінесценції кристалів
412
()
стехіометричні дефекти кристала
413
()
кінетичні параметри кристалів
414
()
параметри змішаних кристалів
415
()
максимум спектру люмінесценції
416
()
структура спектрів люмінесценції
417
()
трансформація спектрів
418
()
спектр імпульсної катодолюмінесценції кристалів
419
()
спектр люмінесценції кристалів
420
()
спектр оптичного пропускання
421
()
вимірювання спектрів рентгенолюмінесценції
422
()
видимий діапазон спектру
423
()
ІЧ область спектру
424
()
смуга поглинання
425
()
смуга дефектної люмінесценції
426
()
смуга крайової люмінесценції
427
()
смуга рентгенолюмінесценції
428
()
валентні елементи
429
()
донорні елементи
430
()
структура точкових дефектів
431
()
зона провідності
432
()
функціональні параметри
433
()
допуючі домішки
434
()
пастка заряду
435
()
пари цинку
436
()
дослідження температурної залежності рентгенолюмінесценції
437
()
інтенсивність радіолюмінесценції
438
()
залежність інтенсивності свічення
439
()
залежність інтенсивності рентгенолюмінесценції
440
()
інтегральна інтенсивність рентгенолюмінесценції
441
()
низька температура
442
()
температура кристала
443
()
діапазон температур
444
()
оптичні характеристики кристалів
445
()
смуга свічення
446
()
низькотемпературна фотолюмінесценція
447
()
температурна залежність
448
()
кристалічна решітка
449
()
поліпшені параметри
450
()
доповані кристали
451
()
допоровані кристали
452
()
оптичне пропускання монокристалів
453
()
фотолюмінесценція монокристалів
454
()
легування монокристалів
455
()
комплекс досліджень
456
()
вимірювання світлового виходу
457
()
час висвічення
458
()
час спікання
459
()
час відпалу
460
()
залежність від часу
461
()
сцинтиляційні характеристики кристалів
462
()
стабільність світлового виходу
463
()
кристал ряду твердих розчинів
464
()
кристалічний об'ємний матеріал
465
()
особливості отримання
466
()
процес отримання
467
()
технології отримання
468
()
халькогенідний сцинтилятор
469
()
використання рентгенівських випромінювачів
470
()
детектор теплових нейтронів
471
()
детектор інтроскопічних систем
472
()
час загасання люмінесценції
473
()
низькоенергетичний канал
474
()
прилад візуалізації
475
()
сцинтиляційне матеріалознавство
476
()
медичне приладобудування
477
()
радіаційні навантаження
478
()
радіаційний об'єкт
479
()
об'ємний кристал
480
()
кристали твердих розчинів ZnSe-ZnS
481
()
твердофазний синтез
482
()
склад вихідної шихти
483
()
склад кристала
484
()
склад твердого розчину
485
()
кристали стехіометричного складу
486
()
метод Бриджмена-Стокбаргера
487
()
спікання суміші порошків
488
()
вміст компонентів
489
()
вміст домішок
490
()
безградієнтна зона
491
()
зона максимального градієнта
492
()
горизонтальна піч
493
()
піч високого тиску
494
()
переміщення тигля
495
()
графітовий тигель
496
()
використання спектрофлуориметра
497
()
використання рентгенівської трубки
498
()
спектр випромінювання люмінесценції
499
()
спектр збудження люмінесценції
500
()
спектр збудження висвічування

Страницы:   1 2