відображення
сортування нова вкладка
email:
Пошук       Вибрана Вершина:       Вершина2:

реальна структура


СЕМ зображення поверхні зламу композиту cBN-Cu
  • Метод декорування дозволяє виявляти характерні особливості реальної структури і використовується в технології ПНБ на етапах контролю якості продукції з метою виявлення різноманітних дефектів і ступеню однорідності пластин. Кількість інфільтрованої міді знаходиться на рівні чутливості методу її визначення, але помітні скупчення елементу спостерігаються в найбільш розрихлених областях реальної структури матеріалу (між конусами росту), що достовірно фіксуються мікрорентгеноспектральним аналізом.
  • Через збіг решти ліній розрахунок реальної структури сBN для цієї композиції не мав рації. Як відзначалось, через збіг на рентгенівській дифрактограмі відбитків Cu і cBN, розрахунок реальної структури сBN для композиту cBN-Cu не може бути коректним. На СЕМ зображеннях реальної структури композиту cBN-Cu (злам зразка) в техніці фазового контрасту чітко виявляються прошарки міді (рис. 4.18). Очевидно, що в реальній структурі композитів розподіл ІАГ по товщині прошарків у всьому об’ємі матеріалу може бути досить широким.


Супермножина:


Споріднені вершини: