відображення
сортування нова вкладка
email:
Пошук       Вибрана Вершина:       Вершина2:

плоска поверхня


Зміни вмісту елементів вздовж радіуса, що перетинає ділянку світлої зони зразка
  • На плоскій поверхні контури спрямовані опуклістю до центру пластини, на циліндричній – звернені один до одного, поширюючись від кромки зразка. Результати рентгенівського фазового аналізу вказують на те, що зразки, крім cBN, не містять сторонніх фаз, принаймні в кількості, яку можна визначити цим методом. Мікрорентгеноспектральним аналізом матеріалу у всіх досліджених ділянках зразка виявили присутність Al, Si, O і Mg. Точність визначення вмісту елементів складає ± 0, 115 для O і ±0,01% за масою для Al, Si і Mg. Кількість Al, Si та O збільшується при наближенні до краю (кромки) зразка, в той час як Mg локалізований переважно в його темній центральній частині (рис. 5.7).
  • Плоска поверхня одержаних після спікання зразків ? 11 мм і товщиною 4 мм полірувались для проведення досліджень пружних модулів та твердості компактів.


Супермножина:


Споріднені вершини: