відображення
сортування нова вкладка
email:
Пошук       Вибрана Вершина:       Вершина2:

вимірювання


Рисунок 5.14 – Стенд вимірювання відносного світлового виходу сцинтиляторів.
  • Вимірювання спектрів рентгенолюмінесценції здійснювали на спектрофотометричному комплексі КСВУ-23. Вимірювання відносного світлового виходу проводили з використанням рентгенівської трубки з W-анодом і кремнієвого фотодіода ФД-24 за допомогою приладу «Smiths Heimann AMS-1», з подальшою автоматичною математичною обробкою отриманих даних. Вимірювання рівня післясвітіння через заданий час та відносного світлового виходу проводили за допомогою вимірювально-обчислювального комплексу з дослідження кінетичних характеристик.
  • 2.3 Результати вимірювань спектрів оптичного пропускання
  • Вимірювання спектрів рентгенолюмінесценції (РЛ) сцинтиляторів виконувалися на установці, яка виготовлена на базі спектрофотометричного обчислювального комплексу КСВУ-23, до якого входять монохроматор МДР-23, фотоприймач ФЕП-100, підсилювач, аналогово-цифровий перетворювач сигналу і комп'ютер.
  • При вимірюванні термостимульованої люмінесценції (ТСЛ) і термостимульованої провідності (ТСП) зразок поміщався в кріостат і охолоджувався рідким азотом до температури 80 К. Опромінення зразка вироблялося джерелом рентгенівського випромінювання РУП-200 (Е = 100 – 200 кВ, I = 1 – 4 мА, Мо антикатод, потужність дози 2 Р/с, час опромінення 1 – 10 хв).
  • Ця система призначена для вимірювання рівня післясвітіння сцинтиляторів за допомогою перетворення оптичного випромінювання спочатку в електричні сигнали, потім у цифровий код і його наступну передачу в персональний комп'ютер (ПК) для математичної обробки, візуалізації, збереження і виведення на друк отриманої інформації. Зразок встановлюють на посадочне місце фіксатора зразків на вхідному вікні ФД. вимикають світло в приміщенні з джерелом рентгенівського випромінювання і закривають двері, щоб виключити потрапляння світла на зразок. за допомогою програми запускається процес виміру (t), попередньо виставляють необхідні параметри. результати вимірювань (t) в табличній формі відображаються на дисплеї, записуються у файл і при необхідності виводять на принтер. У таблиці 3.2 представлені дані вимірювань світлового виходу і післясвітіння кристалів CdWO4 з різними домішками.
  • Отримані результати досліджень лягли в основу розробленого нами способу вирощування сцинтиляційних монокристалів легованого вольфрамату кадмію, де у якості легуючої добавки в шихту або розплав вводять сполуки літію (Li2CO3 и/или Li2WO4). Величина післясвітіння для зразків кристалів з різною концентрацією легуючої домішки 5?10-4 – 10-1 мас% склала 0,001 – 0,008 % при вимірюванні через 20 мс після припинення опромінення, у той час як для номінально чистого монокристалу при аналогічних умовах ця величина складає 0,018 – 0,022 % (таблиця 3.3).
  • З кристалічних буль виготовлені зразки розміром 10х10х10 мм для вимірювання оптичного пропускання та сцинтиляційних параметрів. Результати вимірювань наведені в таблиці 4.2.
  • Результати вимірювань інтенсивності радіолюмінесценції композитних сцинтиляторів товщиною 1 мм приведено на рис. 5.4.
  • Визначення однорідності характеристик панелей на основі ZnSe, ZnWO4, CdWO4, Gd2,7Ce0,3Al2,5Ga2,5O13було засноване на вимірюванні однорідності світлового виходу. Виміри проводилися за допомогою стенду для вимірювання однорідності світлового виходу сцинтиляторів. Еталон підбирається залежно від конкретного завдання вимірювання (по можливості однієї форми і розмірів зі зразками сцинтиляційних панелей).